IEC/TC 47/SC 47E, SC 47F 회의 0606 출장요약

1. 회 의 명: IEC/TC 47/SC 47E, SC 47F 회의

2. 회의기간: 2018. 06. 07. - 06. 08.

3. 회의장소: 미국 호놀룰루

4. 참 석 자: 좌성훈 교수(한국과학기술대학교)

5. 참석자격: IEC/TC 47/SC 47F/WG 1 컨비너

 

6. 산업계 전파내용 요약

① 논의 사안의 경제적기술적 중요성

 SC 47F MEMS 분야의 활성화를 위하여 각 Working group 별로 Roadmap을 만들어 10월

부산 General Meeting에서 발표하기로 함.

― 센서 부분의 표준들이 최근 들어 증가함에 따라서 웨어러블, 인공지능 등과 접목한 신

시장에 대한 명확한 목표설정과 함께 MEMS 분야의 회사 및 산업에서 필요한 표준을

개발하기로 함. 따라서 MEMS 신뢰성 관련 표준에 집중하여 표준을 개발할 필요가 있음.

― 여러 개의 센서를 융복합한 복합 센서 기술이 필요함에 따라 이러한 복합센서의 개발 및

성능 및 신뢰성을 측정할 수 있는 표준화가 필요한 상황임.

― 유럽 및 미국의 MEMS 산업계 가령, MEMS industry group 등과 협력할 방안을 모색함.

② 위원회 쟁점 사항

 IEC 62047-35: Standard test procedure for the anti-failure robustness of flexible or foldable

electro-mechanical devices against bending deformation 문건은 수정하여 CD를 다시

제출하기로 하였음.

― 향후 본 회의의 명칭을 변경하여 Busan General Meeting에서 확정하기로 함.